안녕하세요?
삼성전자 신지영이라고 합니다

다름이 아니라 반도체 제품(LEDos) 으로 TDDB 평가 가능한지 확인 부탁드립니다

1. 샘플 형태 : TDDB 평가용 별도 TEG PTN(capacitors TEG)을 만들어 Star PCB에 Chip을 올려 Wirebonding 한 상태로 전달하여
dielectric Breakdown 수준 확인 평가 의뢰예정 (Diode 아님)
-> 샘플형태 수정이 필요하면 의견주시면 감사하겠습니다.

2. 평가항목 : V ramping 과 CVS 둘다 진행 + 한계평가(전수 다 Fail 될때까지 진행 + 각각 샘플의 Fail 시점 확인하려고합니다) (JEDS263)
3. 샘플 수량 : 각 30개~
4. 의뢰 일정 : 4월 예정

상기 평가 가능 할지 문의 드립니다.

안녕하세요.

신뢰성연구센터의 한송희입니다. (hsh@keti.re.kr)

 

 

시험 담당자가 검토하여 메일로 회신드릴 예정입니다.

-이영빈책임(031-789-7289, ybin.lee@keti.re.kr)

 

감사합니다.