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고온고습 분위기下에서 절연파괴강도 측정 |
안선호 |
2026-09-30 |
답변완료 |
| 1643 |
Grain Size 분석 |
박민규 |
2026-09-30 |
답변완료 |
| 1642 |
중기부 디딤돌 과제(그린그래핀) 성능지표 입회평가 가능 여부 |
이강영 |
2026-09-28 |
답변완료 |
| 1641 |
반도체 장비의 전압강하 시험 진행 가능여부 문의 |
나은희 |
2026-09-28 |
답변완료 |
| 1640 |
반도체 소자 내열특성 및 신뢰성 평가 시험 문의 |
김정우 |
2026-09-23 |
답변완료 |
| 1639 |
Power Connector 정격 테스트 문의 드립니다 |
황상규 |
2026-09-23 |
답변완료 |
| 1638 |
SEM-EDS 분석 가능 여부 |
공성호 |
2026-09-22 |
답변완료 |
| 1637 |
이온전도도 및 modulus 측정 문의 |
정희주 |
2026-09-21 |
답변완료 |
| 1636 |
IC(Ion Chromatography) 시험문의 |
김건수 |
2026-09-18 |
답변완료 |
| 1635 |
아연도금 휘스커 평가 |
김현일 |
2026-09-18 |
답변완료 |
| 1634 |
신뢰성시험 견적 문의 |
김도아 |
2026-09-17 |
답변완료 |
| 1633 |
DDR4 Memory 불량분석 관련 |
임진경 |
2026-09-15 |
답변완료 |
| 1632 |
자기 투과율 시험 문의 건 |
정수지 |
2026-09-15 |
답변완료 |
| 1631 |
알루미늄 전기전도도 시험 문의 |
송호섭 |
2026-09-15 |
답변완료 |
| 1630 |
AEC-Q200 신뢰성 시험 문의 건 |
김태용 |
2026-09-15 |
답변완료 |