| 1640 |
반도체 소자 내열특성 및 신뢰성 평가 시험 문의 |
김정우 |
2026-09-23 |
진행중 |
| 1639 |
Power Connector 정격 테스트 문의 드립니다 |
황상규 |
2026-09-23 |
답변완료 |
| 1638 |
SEM-EDS 분석 가능 여부 |
공성호 |
2026-09-22 |
답변완료 |
| 1637 |
이온전도도 및 modulus 측정 문의 |
정희주 |
2026-09-21 |
답변완료 |
| 1636 |
IC(Ion Chromatography) 시험문의 |
김건수 |
2026-09-18 |
답변완료 |
| 1635 |
아연도금 휘스커 평가 |
김현일 |
2026-09-18 |
답변완료 |
| 1634 |
신뢰성시험 견적 문의 |
김도아 |
2026-09-17 |
답변완료 |
| 1633 |
DDR4 Memory 불량분석 관련 |
임진경 |
2026-09-15 |
답변완료 |
| 1632 |
자기 투과율 시험 문의 건 |
정수지 |
2026-09-15 |
답변완료 |
| 1631 |
알루미늄 전기전도도 시험 문의 |
송호섭 |
2026-09-15 |
답변완료 |
| 1630 |
AEC-Q200 신뢰성 시험 문의 건 |
김태용 |
2026-09-15 |
답변완료 |
| 1629 |
분석 문의(물성 및 신뢰성 평가 시험 가능 여부 문의의 건) |
조아람 |
2026-09-15 |
답변완료 |
| 1628 |
도금 측정 문의드립니다. |
유은선 |
2026-09-14 |
답변완료 |
| 1627 |
TIM 시편 Rapid Temperature Cycling 시험 가능 여부 문의 |
홍승완 |
2026-09-13 |
답변완료 |
| 1626 |
3D CT X-ray 장비 이용 및 분석 의뢰 문의 |
임명섭 |
2026-09-10 |
답변완료 |
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