안녕하세요?
한솔오리온텍 품질팀 김건수입니다.

하기와 같은 현황에 따라 검사 문의드립니다.

1. 시험 사유
1) 제품 기능검사에서 RAM TEST FAIL 발생
2) 원인 FPGA: Altera 社 5AGXMB3G4F31I3N / 5AGXMB3G4F31I3G (31 × 31 mm)
- 불량품 10EA를 동일 FPGA로 리볼·재실장한 결과, PASS 6EA / FAIL 4EA

2. 시험 검토
1) 미재작업 불량 시료 - 3D CT-Xray
2) 리볼·재실장 후 불량 시료- SAT C-Scan
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3. 문의사항
1) 검토 중인 시험의 적합성
2) 불량 좌표 미지정 시 FPGA 전체 접합부의 3D-CT 결함 탐색 가능 여부
3) 시험비용

감사합니다.

안녕하세요.

신뢰성연구센터의 한송희입니다. (hsh@keti.re.kr)

이메일로 답변드리겠습니다.