다음 조건으로 온도사이클 신뢰성 시험이 가능한지 문의드립니다.

- 시편 구성: RT/Duroid 5880–bonding sheet–FR-4 hybrid package, CMOS RFIC 및 EMC molding 포함
- 시편 크기: Tx 약 7 × 9 mm, Rx 약 15 × 12 mm
- 시편 수량: Tx 2개, Rx 2개
- 시험 상태: 무전원 상태
- 희망 조건: −40°C ↔ 125°C
- 목표 cycle 수: 100 cycles (일정 내 협의)
- 극한온도 유지시간: 20–30분
- 온도 변화율: 25°C/min
- 참고 규격: JESD22-A104



다음 사항도 함께 확인 부탁드립니다.

상기 조건의 시험 가능 여부
시간–온도 profile 및 시험성적서 제공 가능 여부
시험 비용과 예상 소요기간
시편 제출 방법 및 필요한 신청서


감사합니다.

안녕하세요.

신뢰성연구센터의 한송희입니다. (hsh@keti.re.kr)

 

 

시험 담당자가 검토하여 메일로 회신드릴 예정입니다.

-이우영연구원(031-789-7297, lwy607@keti.re.kr)

 

감사합니다.